4 SemiconductorIC001002

 

 

Halfgeleider/ic

 

 

Van halfgeleidermateriaal tot halfgeleidercomponent, NGI omvat de hele industriële keten van de halfgeleidertests. Vooral NGI heeft de eerste set van nationale digitale bronmeters met een hoge nauwkeurige ontwikkeld voor uitgebreide testen van halfgeleiders.

 

Toepassingsscenario Dut Testparameter Testitem Product aanbevelen
Halfgeleiderassemblage
Materiële eigenschapsanalyse
Energie -efficiëntie en verlichting
Passief onderdeel
Nanomateriaal en apparaat
enz.
IC -chip (RF CPU AFE MCU ADC BMIC)
Diode mos buis
Foto -elektrische sensor
LED/AMOLED
Fotovoltaïsche/zonnecel
enz.
Weerstandsanalyse
Hall -kenmerken Analyse
Wafer -analyse
enz.

 

 

Turn-On spannetest
Overstroom
Mogelijkheidstest
Lekstest
Verouderingstest
Uitsplitsingstest
enz.

 
N2600
N9244
N23010
N23020
enz.
 

 

N2600 Series High Precision Source Measure Unit(SMU)
N2600 -serie High Precision Source Measure Unit (SMU)
N9244 Series High Precision Multi Channel Programmable DC Power Supply
N9244 -serie High Precision Multi Channel Programmeerbare DC -voeding
N23010 Series High Precision Multi Channel Programmable DC Power Supply
N23010 Series Hoge Precision Multi Channel Programmeerbare DC -voeding